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ZEISS MARCA PRESENÇA EM EVENTO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE METROLOGIA

Diretor da divisão da metrologia industrial da ZEISS Brasil irá palestrar em live que será promovida pela entidade nesta sexta-feira (20), Dia Mundial da Metrologia.

ZEISS MARCA PRESENÇA EM EVENTO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE METROLOGIA

A alemã ZEISS, referência mundial em tecnologia e soluções de medição de alta precisão, é uma das convidadas da Sociedade Brasileira de Metrologia para participar da live que será promovida pela entidade nesta sexta-feira, 20, data que marca o Dia Mundial da Metrologia. Com o tema ‘Metrologia na Era Digital’, o encontro terá o diretor da divisão de metrologia industrial da ZEISS Brasil, Alan Assiz, como um de seus palestrantes para falar sobre as soluções disponíveis no setor dentro da área de Smart Services.

“O encontro é uma oportunidade para celebrar o momento do setor e destacar as novas tecnologias que estão disponíveis para apoiar a indústria nessa nova era digital. Temos um portfólio completo de soluções em smart services que trazem benefícios e que conta com a garantia do melhor controle qualidade possível na fabricação dos produtos”, afirma Alan Assiz, diretor da divisão da metrologia industrial da ZEISS Brasil.

O encontro é promovido pela Sociedade Brasileira de Metrologia é gratuito e contará também com a participação de representantes do INMETRO e da Fundação CERTI. A live acontece nesta sexta-feira, dia 20, às 13h30, no canal do YouTube da entidade.

Serviço | Live ‘Metrologia na Era Digital’

www.zeiss.com

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