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Rohde & Schwarz

A Rohde & Schwarz acaba de lançar uma solução de teste para caracterização completa do desempenho de RF do DUT on-wafer

A solução é o resultado da combinação do poderoso analisador de redes vetoriais R&S ZNA da Rohde & Schwarz com o sistema de probe de engenharia da FormFactor, líder do mercado. Como resultado, os fabricantes de semicondutores podem realizar uma caracterização confiável e reproduzível de dispositivos on-wafer na fase de desenvolvimento, durante a qualificação do produto e na produção.

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