Rohde & Schwarz verifica o projeto de referência do sensor de radar automotivo de próxima geração da NXP para distâncias de objetos extremamente curtas

O simulador de alvo de radar R&S RTS, solução revolucionária de radar automotivo da Rohde & Schwarz, em particular sua capacidade de simular eletronicamente objetos de alcance muito próximo, foi usado para verificar o desempenho do projeto de referência do sensor de radar de próxima geração da NXP^® Semiconductors.

A NXP escolheu o sistema de teste de radar R&S RTS para verificar seu projeto de referência de sensor de radar com base no primeiro SoC de radar de um chip RFCMOS de 28 nm da indústria.

Esta colaboração permite à indústria automotiva dar mais um passo no desenvolvimento do radar automotivo, a principal tecnologia que permite sistemas avançados de assistência ao condutor (ADAS) e funcionalidades de condução autônoma.

Engenheiros de ambas as empresas conduziram uma série abrangente de testes para verificar o novo projeto de referência do sensor que é baseado no chip de radar em um SoC (SAF85xx) RFCMOS de 28 nm da NXP. O sistema de teste de radar R&S RTS combina o gerador de eco de radar automotivo R&S AREG800A com o front-end de antenas mmW R&S QAT100, oferecendo recursos exclusivos de simulação de objetos de curta distância, bem como desempenho de RF superior e processamento de sinal avançado com muitas funções avançadas. Isto permite testes realistas de aplicações de radar automotivo da próxima geração e aproxima um passo mais a visão da indústria automotiva de direção totalmente autônoma.

O projeto de referência do sensor de radar automotivo de próxima geração da NXP é possibilitado pelo primeiro chip de radar em um SoC RFCMOS de 28 nm do setor, aproveitando o sistema de teste de radar R&S RTS. O projeto de referência do sensor de radar pode ser usado para aplicações de radar de curto, médio e longo alcance para atender aos desafiadores requisitos de segurança do NCAP (NCAP: New Car Assessment Program), bem como funções de conforto, como piloto automático urbano ou em rodovias para o segmento de rápido crescimento de Veículos L2+ e L3.

O R&S RTS é o único sistema de teste adequado para caracterização completa de sensores de radar e geração de eco de radar com distâncias de objetos até o valor do entreferro do radar em teste. Ele combina o gerador de eco de radar automotivo R&S AREG800A como backend e o conjunto de antenas R&S QAT100 ou o R&S AREG8-81S como frontend. A solução de teste tecnicamente superior é adequada para todo o ciclo de vida do radar automotivo, incluindo laboratório de desenvolvimento, hardware-in-the-loop (HIL), veículo-in-the-loop (VIL), validação e requisitos de aplicação de produção. A solução também é totalmente escalável e pode emular os cenários de tráfego mais complexos para sistemas avançados de assistência ao condutor.

Adi Baumann, Diretor Sênior de P&D de ADAS, da NXP Semiconductors, afirma: “Há muitos anos colaboramos estreitamente e com sucesso com a Rohde & Schwarz na verificação de nossos projetos de referência de sensores de radar automotivos. Os sistemas de teste de radar automotivo de última geração da Rohde & Schwarz nos permitem validação de alta qualidade e altamente eficiente de nossos produtos de radar automotivo e comprovam o excelente desempenho de nosso radar de chip único. O nível de experiência, qualidade e suporte que a Rohde & Schwarz oferece à NXP está fazendo a diferença”.

Gerald Tietscher, vice-presidente de geradores de sinais, fontes de alimentação e medidores da Rohde & Schwarz afirma: “Somos gratos pela colaboração com a NXP para acelerar a implementação de sensores avançados de radar automotivo baseados em chips de radar automotivo de 28 nm. Eles atendem aos requisitos de segurança cada vez mais desafiadores do NCAP e ajudarão a viabilizar novas aplicações de segurança. Nossa experiência em testes de radar automotivo nos permite fornecer a melhor solução de teste da categoria para esse projeto de sensor de radar baseado no primeiro chip de radar em um SoC RFCMOS de 28 nm na indústria”.

A NXP apresentará os mais recentes desenvolvimentos para radares, incluindo o projeto de referência do sensor de radar automotivo na feira de negócios CES 2024 em Las Vegas, de 9 a 12 de janeiro de 2024, no estande CP18/19 no Salão Oeste.

www.rohde-schwarz.com

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