ZEISS MARCA PRESENÇA EM WORKSHOP PROMOVIDO PELO CNPEM

Encontro é gratuito e acontece entre os dias 13 e 15 de setembro na sede do Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais, em Campinas.

Referência mundial em soluções de metrologia, inspeção de alta precisão e performance, a alemã ZEISS marca presença na primeira edição do SEM-FIB Workshop, iniciativa promovida pelo Centro Nacional de Pesquisa em Energia e Materiais (CNPEM), para oferecer uma introdução teórico-prática à Microscopia Eletrônica de Varredura/Scanning Electron Microscope (MEV/SEM) e à Microscopia Eletrônica de Duplo Feixe/ Focused Ion Beam (FIB).

Destinado a pesquisadores, estudantes de pós-graduação, técnicos e profissionais do ensino e inovação, o workshop é gratuito e será realizado entre os dias 13 e 15 de setembro, no Laboratório Nacional de Nanotecnologia (LNNano) do CNPEM, em Campinas (SP). Com aulas expositivas em auditório e demonstrações práticas nos equipamentos, o evento irá abordar aspectos básicos dos equipamentos e de técnicas associadas, como espectroscopia de raios X dispersiva em energia (EDS), difração de elétrons retro espalhados (EBSD e TKD), preparação de amostras por FIB, entre outras.

Durante o encontro, a ZEISS, que patrocina o evento, apresentará as funcionalidades do microscópio ZEISS AxioVert 7, que é capaz de examinar amostras grandes e pesadas, com uma ampla gama de métodos de contraste clássicos e avançados. Outro equipamento com foco na nitidez é o microscópio ZEISS Discovery V8, que conta com de zoom manual de 8:1 e oferece uma percepção tridimensional das amostras.

“Para nós da ZEISS é uma grande satisfação apoiar a realização de um evento tão importante para o desenvolvimento dos profissionais da área”, afirma Alan Assiz, diretor da divisão da metrologia industrial da ZEISS Brasil. “Somos referência global em microscopia e acreditamos que podemos contribuir com a qualificação do setor por meio da oferta de conteúdo relevante. Com a participação em workshops, buscamos compartilhar o nosso know-how e disseminar as boas práticas entre os profissionais da indústria, além de esclarecer dúvidas sobre temas pertinentes sobre a área de qualidade”, completa o executivo.

Para conferir a programação completa do evento e fazer a sua inscrição, acesse o site https://pages.cnpem.br/semfib-workshop/.

Serviço | SEM-FIB Workshop

Data: 13, 14 e 15 de setembro de 2023
Local: CNPEM
Endereço: Rua Giuseppe Máximo Scolfaro, 10.000 – Polo II de Alta Tecnologia de Campinas
Horário: das 8h30 às 17h15

www.zeiss.com.br

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